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公司地址: | 昆山市经济技术开发区前进东路158号 |
发布时间:2021-12-24 11:17:00 作者:钢研纳克
直读光谱仪较早起源于上世纪40年代,起初被应用于***装备制造领域。第二次大战后,随着***基础设施的重建,经济开始复苏,光谱仪也逐步被应用于民用领域。上世纪60年代,直读光谱仪被引入到国内,作为其一批应用者,钢研纳克的母体原钢铁研究总院(现为中国钢研科技集团),见证了直读光谱仪产业在我国的发展,这也为钢研纳克后期涉足该领域打下了坚实的基础。2005年,钢研纳克推出一代直读光谱仪——Labspark750,至今,钢研纳克的直读光谱仪产品已历经了三次较大规模的升级迭代,产品性能持续得到改进。本次钢研纳克在BCEI1A2019上推出的SparkCCD7000直读光谱仪在检测灵敏度、光学系统、智控、痕量元素识别等方面都有大幅提高,据了解,此仪器在发布会前已经过多次试验比对,其各项数据均已处于国际1***水平。
直读光谱仪在检测分析过程中由于各种因素的影响产生误差是在所难免的,比如标准样品和分析样品成分不均匀、组织状况不一致、光谱性能不稳定、样品表面处理不好、***气纯度不够等一个因素出现问题,就会影响到光电光谱分析误差。了解其产生误差的原因,采取有效的措施进行消除或避免误差,提高直读光谱仪检测结果的准确性,是一项十分重要的研究课题。
光电光谱分析选用的分析线,必需符合下列要求
直读光谱分析时,一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成,常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称,就是当激发光源有波动时,两条线对的谱线强度虽有变化,但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即
R=I1/I0
I1为分析线的强度,Io为内标线强度,表明I1和Io同时变,而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时,有很多分析通道,要安装许多内标通道有困难,因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线,这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时,有时还用内标线来控制曝光量,称为自动曝光,也就是样品在曝光时,分析线和内标分别向各自积分电容充电,当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时,自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I,并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io,而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时曝光法较为普遍。
直读光谱仪
清洗激发台的内表面,主要是避免残留内壁的粉尘放电影响分析结果。通常每激发100—200次应清理一次。电极与激发面之间的距离,必须按极距要求调整好,如果与激发面的距离太大,试样不易激发,如果电极与激发面的距离太小,曝光时放电电流太大,以至于与仪器各参数不相匹配,使测定结果与实际结果之间有差异,影响测定的准确性。因此必须将电极与激发面的距离调整准确,清洗激发台和电极后一定要重视这个问题。
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